X-ray and image analysis in electron microscopy
Edición de la obra X-ray and image analysis in electron microscopy
| Autor | John J. Friel |
|---|---|
| Editorial | Princeton Gamma-Tech |
| Fecha de publicación | 1995 |
| Lugar | Princeton, NJ |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 97 |
| ISBN-10 | 0964145502 |
| LCCN | 94067188 |
| Número de Cutter | F911x |