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VLSI Test Principles and Architectures

Name: VLSI Test Principles and Architectures
ISBN: 9780123705976

Design for Testability (Systems on Silicon)

Autor	Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Editorial	Morgan Kaufmann
Fecha de publicación	July 7, 2006
Idioma	inglés
Páginas	808
ISBN-13	9780123705976
ISBN-10	0123705975
Número de Cutter	`W246v`

VLSI Test Principles and Architectures (2006) — ISBN 9780123705976 | Cutter Number