VLSI Test Principles and Architectures
Design for Testability
Edición de la obra VLSI test principles and architectures
Design for Testability
Edición de la obra VLSI test principles and architectures
| Editorial |
|---|
| Elsevier Science & Technology Books |
| Fecha de publicación | 2006 |
|---|
| Idioma | inglés |
|---|
| Páginas | 808 |
|---|
| ISBN-13 | 9780080474793 |
|---|
| Número de Cutter | W246v |
|---|