VLSI test principles and architectures
design for testability
Edición de la obra VLSI test principles and architectures
| Autor | Laung-Terng Wang, Xiaoqing Wen, Cheng-Wen Wu |
|---|---|
| Editorial | Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, Morgan Kaufmann |
| Fecha de publicación | 2006 |
| Lugar | Amsterdam, Boston |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 777 |
| ISBN-10 | 0123705975 |
| OCLC | 64624834, 434023516 |
| LCCN | 2006006869 |