VLSI Design and Test
26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
Edición de la obra VLSI Design and Test
| Autor | Ambika Prasad Shah, Sudeb Dasgupta, Anand Darji, Jaynarayan Tudu |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | 2023 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9783031215131 |
| Número de Cutter | S525v |