Transport, correlation, and structural defects
Edición de la obra Transport, correlation, and structural defects
| Autor | Hellmut Fritzsche |
|---|---|
| Editorial | World Scientific |
| Fecha de publicación | 1990 |
| Lugar | Singapore, Teaneck, N.J |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 305 |
| ISBN-10 | 9971509733, 9971509741 |
| OCLC | 22891571 |
| LCCN | 90026281 |
| Serie | Advances in disordered semiconductors ; · v. 3 |
| Número de Cutter | F919t |