Transmission Electron Microscopy in Micro-Nanoelectronics
Edición de la obra Transmission Electron Microscopy in Micro-Nanoelectronics
| Autor | Alain Claverie |
|---|---|
| Editorial | Wiley & Sons, Incorporated, John |
| Fecha de publicación | 2013 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 264 |
| ISBN-13 | 9781118579039 |
| Número de Cutter | C617t |