Thinning methodologies for pattern recognition
Edición de la obra Thinning methodologies for pattern recognition
| Autor | Ching Y. Suen, Patrick S-P Wang |
|---|---|
| Editorial | World Scientific |
| Fecha de publicación | 1994 |
| Lugar | Singapore, River Edge, NJ |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 344 |
| ISBN-10 | 9810214820 |
| OCLC | 30686037 |
| LCCN | 95112781 |
| Serie | Series in machine perception and artificial intelligence ; · vol. 8 |