Terrestrial Neutron-Induced Soft Error in Advanced Memory Devices
Edición de la obra Terrestrial Neutron-Induced Soft Error in Advanced Memory Devices
| Autor | Takashi Nakamura, Mamoru Baba, Eishi Ibe |
|---|---|
| Editorial | World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
| Fecha de publicación | 2008 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781281930057 |
| Número de Cutter | N163t |