System-on-Chip Test Architectures (Systems on Silicon)
Edición de la obra System-on-chip test architectures
| Autor | Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba |
|---|---|
| Editorial | Morgan Kaufmann |
| Fecha de publicación | November 16, 2007 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 896 |
| Formato | Hardcover |
| ISBN-13 | 9780123739735 |
| ISBN-10 | 012373973X |
| OCLC | 435501530 |