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System-On-Chip Test Architectures

Name: System-On-Chip Test Architectures
ISBN: 9780080556802

Nanometer Design for Testability

Autor	Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
Editorial	Elsevier Science & Technology Books
Fecha de publicación	2010
Idioma	inglés
ISBN-13	9780080556802
Número de Cutter	`W246s`

System-On-Chip Test Architectures (2010) — ISBN 9780080556802 | Cutter Number