System-on-chip test architectures
nanometer design for testability
Edición de la obra System-on-chip test architectures
| Autor | Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba |
|---|---|
| Editorial | Morgan Kaufmann Publishers |
| Fecha de publicación | 2008 |
| Lugar | Amsterdam, Boston |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 856 |
| ISBN-13 | 9780123739735 |
| ISBN-10 | 012373973X |
| LCCN | 2007023373 |