Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications
Nanomechanical Characterization
Edición de la obra Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications
| Autor | Dalia G. Yablon |
|---|---|
| Editorial | Wiley & Sons, Incorporated, John |
| Fecha de publicación | 2013 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781306072960 |
| Número de Cutter | Y11s |