Scanning microscopy 2010
17-19 May 2010, Monterey, California, United States
Edición de la obra Scanning microscopy 2010
| Autor | Michael T. Postek |
|---|---|
| Editorial | SPIE |
| Fecha de publicación | 2010 |
| Lugar | Bellingham, Wash |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9780819482174 |
| ISBN-10 | 081948217X |
| OCLC | 656784720 |
| LCCN | 2010459471 |
| Serie | Proceedings of SPIE -- v. 7729 · Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering -- v. 7729. |
| Número de Cutter |