Scanning Microscopies 2012
Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences
Edición de la obra Scanning Microscopies 2012
| Autor | Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, David C. Joy, Tim K. Maugel |
|---|---|
| Editorial | SPIE |
| Fecha de publicación | 2012 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 178 |
| ISBN-13 | 9780819490568 |
| Número de Cutter |