Scanning microscopies 2011
advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences ; 26-28 April 2011, Orlando, Florida, United States
Edición de la obra Scanning microscopies 2011
| Autor | Michael T. Postek |
|---|---|
| Editorial | SPIE |
| Fecha de publicación | 2011 |
| Lugar | Bellingham, Wash |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9780819486103 |
| ISBN-10 | 0819486108 |
| OCLC | 746464542 |
| LCCN | 2011499441 |
| Serie | Proceedings of SPIE -- v. 8036 |
| Número de Cutter |