Reliability Prediction for Microelectronics
Edición de la obra Reliability Prediction for Microelectronics
| Autor | Joseph B. Bernstein, Alain Bensoussan, Emmanuel Bender |
|---|---|
| Editorial | Wiley & Sons, Limited, John |
| Fecha de publicación | 2024 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781394210930 |
| Número de Cutter | B531r |