Reliability of Microtechnology
Interconnects, Devices and Systems
Edición de la obra Reliability of Microtechnology
| Autor | Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | 2011 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 204 |
| ISBN-13 | 9781441957603 |
| Número de Cutter | L783r |