Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing
Edición de la obra Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing
| Autor | Wei-Ting Kary Chien, Way Kuo |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | 2026 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 350 |
| ISBN-13 | 9783032231895 |
| Número de Cutter | C533r |