Quality aspects in spatial data mining
Edición de la obra Quality aspects in spatial data mining
| Autor | Alfred Stein, John Shi, Wietske Bijker |
|---|---|
| Editorial | Chapman & Hall/CRC |
| Fecha de publicación | 2008 |
| Lugar | Boca Raton, FL |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781420069266 |
| LCCN | 2008009919 |
| Número de Cutter | S819q |