Quality Aspects in Spatial Data Mining
Edición de la obra Quality aspects in spatial data mining
| Autor | Alfred Stein, John Shi, Wietske Bijker |
|---|---|
| Editorial | CRC, CRC Press |
| Fecha de publicación | August 30, 2008 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 374 |
| Formato | Hardcover |
| ISBN-13 | 9781420069266 |
| ISBN-10 | 1420069268 |
| OCLC | 548673214, 214063501 |
| LCCN |