Process control and inspection for industry
8-10 November 2000, Beijing, China
Edición de la obra Process control and inspection for industry
| Autor | Shulian Zhang, Gao, Wei Ph. D. |
|---|---|
| Editorial | SPIE |
| Fecha de publicación | 2000 |
| Lugar | Bellingham, Wash., USA |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 434 |
| ISBN-10 | 0819438936 |
| OCLC | 45850675 |
| LCCN | 2001269021 |
| Serie | SPIE proceedings series ; · v. 4222 · Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; |