Point Defects in Semiconductors II
Experimental Aspects (Springer Series in Solid-State Sciences)
Edición de la obra Point defects in semiconductors
| Autor | Michel Lannoo, J. Bourgoin |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | June 1983 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 295 |
| ISBN-13 | 9780387115153 |
| ISBN-10 | 0387115153 |
| Número de Cutter | L292p |