Next Generation Technology-Enhanced Assessment
Global Perspectives on Occupational and Workplace Testing
Edición de la obra Next Generation Technology-Enhanced Assessment
| Autor | Scott, John C., Jr., Dave Bartram, Douglas H. Reynolds |
|---|---|
| Editorial | Cambridge University Press |
| Fecha de publicación | 2017 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 440 |
| ISBN-13 | 9781107124363 |
| Número de Cutter | S427n |