MOS Interface Physics Process and Characterization
Edición de la obra MOS Interface Physics Process and Characterization
| Autor | Shengkai Wang, Xiaolei Wang |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group, CRC Press |
| Fecha de publicación | 2021 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 162 |
| ISBN-13 | 9781032106274 |
| OCLC | 1246675734 |
| LCCN | 2021017024 |
| Número de Cutter | W246m |