Microscopy of Semiconducting Materials
1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference Held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
Edición de la obra Microscopy of Semiconducting Materials
| Autor | R. Beanland, A. G. Cullis |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group |
| Fecha de publicación | 2000 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 774 |
| ISBN-13 | 9780429176135 |
| Número de Cutter | B367m |