Microprobe characterization of optoelectronic materials
Edición de la obra Microprobe characterization of optoelectronic materials
| Autor | Juan Jimenez |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis |
| Fecha de publicación | 2003 |
| Lugar | New York, London |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 715 |
| ISBN-10 | 1560329416 |
| OCLC | 48450984 |
| LCCN | 2001053158 |
| Serie | Optoelectronic properties of semiconductors and superlattices -- v. 17 |
| Número de Cutter |