Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics
Edición de la obra Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics
| Autor | T. Mitch Wallis, Pavel Kabos |
|---|---|
| Editorial | Cambridge University Press |
| Fecha de publicación | 2017 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781316343098 |
| Número de Cutter | W214m |