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Materials Reliability Issues in Microelectronics

Name: Materials Reliability Issues in Microelectronics
ISBN: 9781107409873

Volume 225

Autor	James R. Lloyd, Frederick G. Yost, Paul S. Ho
Editorial	University of Cambridge ESOL Examinations
Fecha de publicación	2014
Idioma	inglés
Páginas	388
ISBN-13	9781107409873
Número de Cutter	`L793m`

Materials Reliability Issues in Microelectronics (2014) — ISBN 9781107409873 | Cutter Number