Journey to Data Quality
Edición de la obra Journey to data quality
| Autor | Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk, Yang W. Lee |
|---|---|
| Editorial | MIT Press |
| Fecha de publicación | 2009 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 240 |
| ISBN-13 | 9780262252645 |
| Número de Cutter | P665j |
Edición de la obra Journey to data quality
| Autor | Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk, Yang W. Lee |
|---|---|
| Editorial | MIT Press |
| Fecha de publicación | 2009 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 240 |
| ISBN-13 | 9780262252645 |
| Número de Cutter | P665j |