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Journey to Data Quality

Name: Journey to Data Quality
ISBN: 9780262256544

Autor	Yang W. Lee, James D. Funk, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang
Editorial	MIT Press
Fecha de publicación	2018
Idioma	inglés
Páginas	240
ISBN-13	9780262256544
Número de Cutter	`L482j`

Journey to Data Quality (2018) — ISBN 9780262256544 | Cutter Number