Journey to Data Quality
Edición de la obra Journey to data quality
| Autor | Yang W. Lee, Leo L. Pipino, James D. Funk, Richard Y. Wang, Y. Lee |
|---|---|
| Editorial | MIT Press, The MIT Press |
| Fecha de publicación | 2009 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 240 |
| ISBN-13 | 9780262513357 |
| Número de Cutter | L482j |