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Edición de la obra Journey to data quality
| Autor | Yang W. Lee |
|---|---|
| Editorial | MIT Press |
| Fecha de publicación | 2006 |
| Lugar | Cambridge, Mass |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 226 |
| ISBN-13 | 9780262122870 |
| ISBN-10 | 0262122871 |
| OCLC | 64596020 |
| LCCN | 2006043331 |
| Número de Cutter | L482j |