Ion Beam Analysis
Fundamentals and Applications
Edición de la obra Ion Beam Analysis
| Autor | Michael Nastasi, James W. Mayer, Yongqiang Wang |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group |
| Fecha de publicación | 2014 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 472 |
| ISBN-13 | 9780429193545 |
| Número de Cutter | N269i |