Integrated Circuit Defect-Sensitivity:
Theory and Computational Models (The International Series in Engineering and Computer Science)
Edición de la obra Integrated Circuit Defect-Sensitivity:
| Autor | José Pineda de Gyvez |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | December 31, 1992 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 192 |
| Formato | Hardcover |
| ISBN-13 | 9780792393061 |
| ISBN-10 | 0792393066 |
| Número de Cutter | G998i |