Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Theory and Computational Models
Edición de la obra Integrated Circuit Defect-Sensitivity:
| Autor | José Pineda de Gyvez |
|---|---|
| Editorial | Springer London, Limited |
| Fecha de publicación | 2013 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781461531586 |
| Número de Cutter | G998i |