Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Phonons, Plasmons, and Polaritons
Edición de la obra Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
| Autor | Mathias Schubert |
|---|---|
| Editorial | Springer Berlin / Heidelberg |
| Fecha de publicación | 2010 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9783642062285 |
| Número de Cutter | S384i |