In-Situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Edición de la obra In-Situ Electron Microscopy
| Autor | Gerhard Dehm, James M. Howe, Josef Zweck |
|---|---|
| Editorial | Wiley & Sons, Incorporated, John |
| Fecha de publicación | 2012 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 402 |
| ISBN-13 | 9783527652174 |
| Número de Cutter | D322i |