In-Situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Edición de la obra In-Situ Electron Microscopy
| Autor | Gerhard Dehm, James M. Howe, Josef Zweck |
|---|---|
| Editorial | Wiley-VCH Verlag GmbH |
| Fecha de publicación | 2012 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 402 |
| ISBN-13 | 9783527319732 |
| LCCN | 2012471513 |
| Número de Cutter | D322i |