Impurity Diffusion and Gettering in Silicon
Volume 36
Edición de la obra Impurity diffusion and gettering in silicon
| Autor | Richard B. Fair, Charles W. Pearce, Jack Washburn |
|---|---|
| Editorial | University of Cambridge ESOL Examinations |
| Fecha de publicación | 2014 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 300 |
| ISBN-13 | 9781107405608 |
| Número de Cutter | F163i |