Helium Ion Microscopy
Principles and Applications
Edición de la obra Helium Ion Microscopy
| Autor | David C. Joy |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | Sep 14, 2013 |
| Páginas | 74 |
| Formato | paperback |
| ISBN-13 | 9781461486619 |
| ISBN-10 | 1461486610 |
| Número de Cutter | J88h |