Elements of Electromigration
Electromigration in 3D IC Technology
Edición de la obra Elements of Electromigration
| Autor | K. N. Tu, Yingxia Liu |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group |
| Fecha de publicación | 2024 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781032470276 |
| Número de Cutter | T883e |