Electron and ion microscopy and microanalysis
principles and applications
Edición de la obra Electron and ion microscopy and microanalysis
| Autor | Lawrence Eugene Murr |
|---|---|
| Editorial | Marcel Dekker |
| Fecha de publicación | 1982 |
| Lugar | New York |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 793 |
| ISBN-10 | 0824715535 |
| OCLC | 8689690 |
| LCCN | 82014872 |
| Serie | Optical engineering ; · v. 1 · Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ; |
| Número de Cutter |