Electron and ion microscopy and microanalysis
principles and applications
Edición de la obra Electron and ion microscopy and microanalysis
| Autor | Lawrence Eugene Murr |
|---|---|
| Editorial | M. Dekker, CRC Press |
| Fecha de publicación | 1991 |
| Lugar | New York |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 837 |
| ISBN-10 | 0824785568 |
| OCLC | 48139870, 23974033 |
| LCCN | 91020173 |
| Serie | Optical engineering ; · 29 · Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ; |
| Número de Cutter |