Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
Time Dependent Failure Mechanisms
Edición de la obra Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
| Autor | Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky |
|---|---|
| Editorial | Springer London, Limited |
| Fecha de publicación | 2016 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9783319432205 |
| Número de Cutter | B734d |