Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
Time Dependent Failure Mechanisms
Edición de la obra Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
| Autor | Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | Sep 17, 2016 |
| Páginas | 116 |
| Formato | paperback |
| ISBN-13 | 9783319432182 |
| ISBN-10 | 3319432184 |
| Número de Cutter | B734d |