Developments in X-ray tomography II
22-23 July, 1999, Denver, Colorado
Edición de la obra Developments in X-ray tomography II
| Autor | SPIE |
|---|---|
| Editorial | SPIE |
| Fecha de publicación | 1999 |
| Lugar | Bellingham, Washington |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 340 |
| ISBN-10 | 081943258X |
| OCLC | 42661882 |
| LCCN | 00267084 |
| Serie | SPIE proceedings series ; · v. 3772 · Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; |
| Número de Cutter |