Data analysis and modeling for process control
26-27 February 2004, Santa Clara, California, USA
Edición de la obra Data analysis and modeling for process control
| Autor | Kenneth Tobin |
|---|---|
| Editorial | SPIE |
| Fecha de publicación | 2004 |
| Lugar | Bellingham, Wash., USA |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 248 |
| ISBN-10 | 0819452912 |
| OCLC | 55482782 |
| LCCN | 2004303114 |
| Serie | SPIE proceedings series, · v. 5378 · Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; |
| Número de Cutter |