Critical Issues in Scanning Electron Microscope Metrology
September-October 1994
Edición de la obra Critical Issues in Scanning Electron Microscope Metrology
| Autor | Michael T. Postek |
|---|---|
| Editorial | Diane Pub Co |
| Fecha de publicación | June 1994 |
| Idioma | inglés |
| Formato | Plastic comb |
| ISBN-13 | 9780788115523 |
| ISBN-10 | 0788115529 |
| Número de Cutter | P857c |