CMOS Gate-Stack Scaling Vol. 1155
Materials, Interfaces and Reliability Implications
Edición de la obra CMOS Gate-Stack Scaling Vol. 1155
| Autor | Alexander A. Demkov, Taylor, Bill, H. Rusty Harris, Jeffery W. Butterbaugh, Willy Rachmady |
|---|---|
| Editorial | University of Cambridge ESOL Examinations |
| Fecha de publicación | 2014 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 194 |
| ISBN-13 | 9781107408326 |
| Número de Cutter |